過大粒度檢測
過大粒度檢測摘要：過大粒度檢測是材料質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié),，重點針對顆粒物料的粒徑分布,、最大粒徑及形貌特征進行科學分析。檢測涵蓋金屬粉末、陶瓷原料,、化工顆粒等材料，需依據(jù)ASTM,、ISO,、GB/T等標準，采用激光衍射,、篩分法及顯微成像技術(shù),，確保數(shù)據(jù)精準性和工藝適配性。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。
注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
檢測項目
粒徑分布（D10/D50/D90值,，體積基準分布曲線）
最大粒徑（單顆粒最大線性尺寸，閾值＞500μm）
顆粒形貌（長徑比＞3:1的異形顆粒占比）
堆積密度（松裝密度與振實密度差值＞0.4g/cm3）
粒度均勻性（Span值＞1.5的分布寬度指數(shù)）
檢測范圍
金屬粉末：鈦合金粉,、不銹鋼粉,、鈷鉻合金粉等增材制造原料
陶瓷原料：氧化鋁、碳化硅,、氮化硅等燒結(jié)前驅(qū)體
化工顆粒：催化劑載體,、分子篩、樹脂顆粒等
制藥輔料：微晶纖維素,、乳糖顆粒等固體制劑原料
建筑材料：水泥熟料,、石英砂、膨脹珍珠巖等
檢測方法
激光衍射法：ASTM B822-20,、ISO 13320:2020、GB/T 19077-2016
動態(tài)圖像分析法：ISO 13322-2:2021,、GB/T 21649.2-2017
篩分法：ASTM E11-20,、ISO 3310-1:2016,、GB/T 6003.1-2012
顯微圖像法：ISO 13322-1:2014、GB/T 15445.6-2014
X射線沉降法：ISO 13317-3:2001,、GB/T 5162-2021
檢測設備
馬爾文 Mastersizer 3000：激光衍射粒度儀，量程0.01-3500μm
霍尼韋爾 CAMSIZER X2：動態(tài)圖像分析系統(tǒng),，分辨率0.5μm
羅姆泰克 Air Jet Sieve：氣流篩分儀，篩網(wǎng)尺寸20-4000目
日立 SU5000：場發(fā)射掃描電鏡,，放大倍數(shù)20-100萬倍
堀場 LA-960V2：納米粒度分析儀,，Zeta電位測量功能
北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期：7~15工作日,，可加急。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務,。
中析儀器 資質(zhì)
中析過大粒度檢測 - 由于篇幅有限，僅展示部分項目,，如需咨詢詳細檢測項目，請咨詢在線工程師
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